注明:IC芯片自动化视觉检测设备检测项目,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于150件(取决于产品送料速度)
一、检测内容及要求
检测内容:
最大尺寸长30mm*宽15mm的产品的尺寸检测
序号 |
检测位置 |
检测方式 |
是否可检 |
1 |
针脚台阶尺寸 |
背光检测 |
可检 |
2 |
|
|
|
3 |
|
|
|
4 |
倒角位置 |
|
不可检 |
5 |
斜面位置 |
|
不可检 |
注明:IC芯片自动化视觉检测设备检测项目,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于150件(取决于产品送料速度)
二、设备组成及主要机构
设备型号:SP-T300非标定制机 外形尺寸:900*800*1850mm
组成部件清单:
序号 |
部件名称 |
规格型号 |
数量 |
备注 |
1 |
视觉检测软件 |
SIPOTEK |
1套 |
数据可上传 |
2 |
工业电脑 |
SIPOTEK定制 |
1套 |
|
3 |
显示器 |
PHILIPS 19”液晶显示器 |
1台 |
|
4 |
工业相机 |
Barsler工业相机 |
1套 |
|
5 |
相机调节伺服模组 |
SIPOTEK定制 |
1套 |
|
6 |
工业镜头 |
FA高清光学工业镜头 |
1套 |
|
7 |
光源 |
定制光学自适应光源 |
1套 |
|
8 |
检测平台 |
专业光学玻璃载台 |
1套 |
|
9 |
伺服电机 |
松下·PANASONIC |
1套 |
|
10 |
控制系统 |
SIPOTEK定制 |
1套 |
|
11 |
PLC运动协作 |
松下·PANASONIC |
1套 |
|
IC芯片自动化视觉检测设备外观3D立体图
三、样件测试图片:
顶部背光检测原图(G8301909-102-LFS1):
顶部背光检测良品分析图(G8301909-102-LFS1):OK
顶部背光检测原图(G8340010-001-LFS1):
顶部背光检测良品分析图(G8340010-001-LFS1):OK
顶部背光检测原图(34475-001-LFS1):
顶部背光检测良品分析图(34475-001-LFS1):OK
顶部背光检测原图(LED-45188551-LF):
顶部背光检测良品分析图(LED-45188551-LF):OK
顶部背光检测原图(TS1025186-00-AS1):
顶部背光检测良品分析图(TS1025186-00-AS1):OK
顶部背光检测原图(G8386152-003-AS1):
顶部背光检测良品分析图(G8386152-003-AS1):OK
顶部背光检测原图(P1071964-S1):
顶部背光检测良品分析图(P1071964-S1):OK
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